軍標(biāo)降塵試驗(yàn)箱可用于檢測(cè)各類(lèi)型電子元器件、線路板、控制器、電子產(chǎn)品、開(kāi)關(guān)等對(duì)飛散砂塵環(huán)境的適用能力。GJB 150.12A試驗(yàn)一般包括吹砂試驗(yàn)、吹塵試驗(yàn)和降塵試驗(yàn)三種,現(xiàn)有的技術(shù)已實(shí)現(xiàn)同時(shí)進(jìn)行砂塵噴吹或降砂塵的電子產(chǎn)品檢測(cè)試驗(yàn),但是,目前的試驗(yàn)設(shè)備大都是針對(duì)民用國(guó)標(biāo)制造的,并不能滿(mǎn)足軍標(biāo)的要求。
軍標(biāo)降塵試驗(yàn)箱:外形參考
軍標(biāo)降塵試驗(yàn)箱可用于檢測(cè)各類(lèi)型電子元器件、線路板、控制器、電子產(chǎn)品、開(kāi)關(guān)等對(duì)飛散砂塵環(huán)境的適用能力。GJB 150.12A試驗(yàn)一般包括吹砂試驗(yàn)、吹塵試驗(yàn)和降塵試驗(yàn)三種,現(xiàn)有的技術(shù)已實(shí)現(xiàn)同時(shí)進(jìn)行砂塵噴吹或降砂塵的電子產(chǎn)品檢測(cè)試驗(yàn),但是,目前的試驗(yàn)設(shè)備大都是針對(duì)民用國(guó)標(biāo)制造的,并不能滿(mǎn)足軍標(biāo)的要求。
:參數(shù)
項(xiàng)目III 降塵 | 降塵風(fēng)速 | ≤0.2m/s |
降塵量 | 6g/m2/D | |
溫度 | 室溫RT to 80℃ | |
濕度 | ≤30%R.H | |
試驗(yàn)時(shí)間 | 72h,或參考4.3.3.7.3表2降塵量和加速系數(shù) | |
粉塵要求 | 細(xì)塵75μm以下;粗塵150μm以下(詳見(jiàn)GJB 150.12A中4.3.3.6.3要求) | |
控制系統(tǒng) |
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安全裝置 |
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:安裝使用環(huán)境